Rogers : 밀리미터 파 주파수에서 PCB 보드 재료의 특성 분석
이것은 IEEE 및 IPC 지침입니다. 측정 방법이 없기 때문입니다. 실제로 Chen et al.1 et al. Dk 테스트를위한 80 가지 이상의 방법을 설명합니다. 그러나 이상적인 단일 방법은 없으며 각 방법의 장점과 장점, 특히 30 ~ 300 GHz의 주파수 범위에서 AOI 테스트 공급 업체 china. AOI 테스트 공급 업체 중국.
회로 시험 대 원료 시험
보드 재료의 Dk 또는 Df (탄젠트 또는 탄젠트 손실 δ)를 결정하는 데 사용되는 두 가지 광범위한 범주의 테스트가 있습니다 : 원자재 측정 또는 재료로 만들어진 회로에서 측정 Dk 및 Df 값을 얻기 위해 원료를 직접 테스트하기위한 고품질 테스트, 신뢰할 수있는 테스트 설비 및 장비에 대한 원료 기반 테스트. 회로 기반 테스트는 일반적으로 공통 회로를 사용하고 재료를 추출합니다.
원료 시험 방법은 종종 시험 설비 또는 시험 설비와 관련된 불확실성을 야기하며, 회로 시험 방법은 시험 회로 설계 및 처리 기술로부터의 불확실성을 수반한다. 두 방법의 차이점은 일반적으로 일치하지 않습니다. AXI 테스트 공급 업체 중국.
예를 들어, IPC에 의해 정의 된 X- 밴드 클램핑 스트립 라인 테스트 방법은 원료에 대한 테스트 방법이며 결과는 테스트 결과와 일치 할 수 없습니다. 클램핑 된 스트립 라인 원료 테스트 방법은 특수한 테스트 픽스처에서 테스트 할 두 개의 재료 (MUT)를 클램핑하여 스트립 라인 공진기를 구축하는 것입니다.
테스트 픽스처에서 테스트 할 재료 (MUT)와 얇은 공진기 사이에 공기가 있습니다. 테스트는 동일한 보드에서 수행되며 측정 된 Dk는 다릅니다. 회로 테스트는 원료 테스트에 의해 결정된 Dk 공차가 ± 0.050 인 고주파 회로 기판 재료에 대해 약 ± 0.075의 공차를 달성합니다.
보드는 이방성이며 일반적으로 3 개의 재료 축에서 다른 값 Dk 값을 갖습니다. Dk 값은 일반적으로 x 축과 y 축 사이에서 거의 차이가 없으므로 대부분의 고주파수 재료의 경우 z 축과 x-y 평면 간의 비교를 나타냅니다. 재료의 이방성에 대해, 측정 된 z- 축의 DK는 xy 평면의 Dk와 시험 된 재료 (MUT)에 따라 다르다. 시험은 모두 "정확하다". .
회로 테스트에 사용되는 회로 유형 일반적으로 공진 구조와 투과 / 반사 구조라는 두 가지 유형의 테스트 회로가 사용됩니다. 공진 구조는 일반적으로 협 대역 결과를 제공하지만 전송 / 반사 테스트는 종종 광대역 결과입니다. 공진 구조를 사용하는 방법은 일반적으로 더 정확합니다.