Rogers: Karakterisering van printplaatmaterialen bij millimetergolffrequenties
Dit is een IEEE- en IPC-richtlijn. Dit komt door het gebrek aan meetmethoden. In feite is een referentie gepubliceerd door Chen et al.1 et al. beschrijft meer dan 80 methoden voor het testen van Dk. Geen enkele methode is echter ideaal, en elke methode heeft zijn voordelen en voordelen, vooral in het frequentiebereik van 30 tot 300 GHz. AOI Testen leverancier China.
Circuittest versus grondstoffentest
Er zijn twee brede categorieën tests die worden gebruikt om de Dk of Df (tangent of tan loss δ) van het plaatmateriaal te bepalen: metingen van grondstoffen of metingen in circuits van materialen. Testen op basis van grondstoffen op hoogwaardige testen, betrouwbare testopstellingen en apparatuur om grondstoffen direct te testen om Dk- en Df-waarden te verkrijgen. Circuit-gebaseerde testen maken meestal gebruik van gewone circuits en extraheren materialen.
Grondstof testmethoden introduceert vaak onzekerheden in verband met testopstellingen of testopstellingen, Het verschil tussen de twee methoden is meestal niet consistent. AXI-testleverancier China.
De door de IPC gedefinieerde X-band geklemde striplijntestmethode is bijvoorbeeld een testmethode voor grondstoffen en de resultaten kunnen niet consistent zijn met de resultaten van de tests. Vastgeklemde striplijn grondstof testmethode is om een stripline-resonator te bouwen door twee te testen stukken materiaal (MUT) in een speciale testopstelling te klemmen.
Er zit lucht tussen het te testen materiaal (MUT) en de dunne resonator in de testopstelling, De test wordt op hetzelfde bord uitgevoerd, de gemeten is Dk is anders. Voor hoogfrequente printplaatmaterialen met een Dk-tolerantie van ± 0,050 zoals bepaald door grondstoftests, zal de circuittest een tolerantie bereiken van ongeveer ± 0,075.
Het bord is anisotroop en heeft meestal verschillende waarden Dk-waarden op drie materiaalassen. De Dk-waarde verschilt meestal heel weinig tussen de x-as en de y-as, dus voor de meeste hoogfrequente materialen verwijst het naar de vergelijking tussen de z-as en het x-y-vlak. Twee voor de anisotropie van het materiaal, de DK van de gemeten z-as verschilt van de Dk van het xy-vlak tot het geteste materiaal (MUT), de testen zijn allemaal "correct". .
Het type circuit dat wordt gebruikt voor het testen van circuits Typisch worden twee soorten testcircuits gebruikt: een resonantiestructuur en een transmissie / reflectiestructuur. Resonante structuren bieden doorgaans smalbandresultaten, terwijl transmissie- / reflectietests vaak breedbandresultaten zijn. De methode om een resonantiestructuur te gebruiken is over het algemeen nauwkeuriger.