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회로 기판이 짧고 점검하는 방법은 요소가 소손되었다는 것입니다 (파트 1)

o-leading.com o-leading.com 2018-03-02 11:10:30
집적 회로가 단전되거나 단락되었는지 테스트하는 것이 필요합니다. 전문 지식이 필요합니다. 이 분야에서 일반적으로 지식과 기술을 갖고 있지 않은 사람들은 IC의 외관에주의 깊게 관찰하여 간단한 판단을 내릴 수 있습니다 : 부풀어 오름, 균열, 변색 등과 같은 IC 표면에 불타는 흔적이 있는지 여부. PCB (중국 pcb 제조 업체)가 깨졌습니다. IC에 불타는 페이스트가 있는지 여부. IC 주변의 원본 조각이 비정상인지 여부. 다음은 멀티 미터를 테스트 도구로 사용하는 집적 회로 검출 방법입니다.


하나는 도로 테스트에 없습니다.

이 방법은 IC가 회로에 용접되지 않은 경우에 수행됩니다. 일반적으로 멀티 미터는 접지 핀에 해당하는 핀 사이의 양극 및 음극 저항 값을 측정 할 수 있으며 손상되지 않은 IC와 비교할 수 있습니다.

도로 감지

이것은 멀티 미터를 통해 회로 (회로의 IC)에있는 IC 핀의 DC 저항, AC 및 DC 전압 및 총 작동 전류를 감지하는 테스트 방법입니다. 이 방법은 IC의 대체 한계와 IC 해체의 문제를 극복한다. 이는 IC 검출을위한 가장 보편적이고 실제적인 방법입니다.

1. 도로 내 직류 저항 검출 방식

이것은 멀티 미터 옴 블록으로 직접 인쇄 회로 기판의 IC 핀과 주변 부품의 양과 음의 DC 저항 값을 직접 측정하고 정상 데이터와 비교하여 오류를 찾아 내고 판별 할 수 있습니다. 측정시 다음 세 가지 사항을주의해야합니다.

(1) 전원 공급 장치는 계량기와 테스트 구성 요소의 손상을 방지하기 위해 측정 전에 분리되어야합니다.

(2) 멀티 미터 저항기의 내부 전압은 6V 이하이어야하며 측정 범위의 범위는 R x 100 또는 R x 1K를 사용하는 것이 가장 좋습니다.

(3) IC 핀의 파라미터를 측정 할 때, 시험되는 기계의 유형, IC 관련 포텐셔미터의 슬라이딩 암의 위치 및 외부 회로 요소의 품질과 같은 측정 조건에주의해야합니다.

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